基于 Labview 的四探针法和卡文迪许扭秤测量半导体薄层电阻综合性实验设计

doi:10.14139/j.cnki.cn22-1228.2022.01.017

下载:

PDF (377KB)
输出: BibTeX | EndNote (RIS)

摘要

设计了“基于四探针法和卡文迪许扭秤”测量半导体薄层电阻( 或电阻率) 的实验装置，该装置可通过“扭秤“完成微小电流( 或电压) 的测量，继而通过相关公式，得到待测样品的电阻( 或电阻率) 。为了实现测量的自动化，该装置采用 Labview 编程。

	服务
	把本文推荐给朋友
	加入引用管理器
	E-mail Alert
	RSS
	（）
	作者相关文章
	黄林
	丁晓夏
	韩凌云
	唐一文

关键词: 四探针卡文迪许扭秤 Labview

Abstract:

A new experiment device for measuring thin film resistance of semiconductor based on four probe method and Cavendish twisting scale has been designed． The semiconductor thin film resistance can be calculated through the measurement of small current ( or voltage) with twisting scale．The process is automated by Labview program．

Key words: four probe method Cavendish twisting scale Labview

出版日期: 2022-02-25 发布日期: 2022-02-25 整期出版日期: 2022-02-25

ZTFLH:

O4-33

引用本文:

黄林, 丁晓夏, 韩凌云, 唐一文. 基于 Labview 的四探针法和卡文迪许扭秤测量半导体薄层电阻综合性实验设计 [J]. 大学物理实验, 2022, 35(1): 74-78.
HUANG Lin, DING Xiaoxia, HAN Lingyun, TANG Yiwen. A Comprehensive Experimental Design for Measuring the Semiconductor Thin Film Ｒesistance Based on Four Probe Method and Cavendish Twisting Scale with Labview Program . Physical Experiment of College, 2022, 35(1): 74-78.

链接本文:

http://dawushiyan.jlict.edu.cn/CN/10.14139/j.cnki.cn22-1228.2022.01.017 或 http://dawushiyan.jlict.edu.cn/CN/Y2022/V35/I1/74